15/01/2026
原子探針顯微鏡 (AFM)的contact-mode可使用力-距曲線 (Force-Distance Curve)可以用來量測材料表面的「黏度(Viscosity)」與「黏附力(Adhesion)」,應用領域涵蓋材料科學、半導體和生物領域…。
1. 表面污染物的黏度與特性分析
FD 曲線量測技術可用於分析表面污染物的黏度(Viscosity)、潤滑層厚度(Lubrication thickness)以及表面彈性的局部變化,這在材料科學和半導體製程中非常重要,用於確認表面是否清潔或帶有特定性質的薄膜。
2. 特定領域的應用
生物細胞應用:對於活性細胞(Live cells),其變形通常在數十奈米範圍內,適合用錐形針尖模型分析其黏彈性。
3. 軟體量測介面如圖所示
參展資訊
< 日本nano tech 2026>
地點:日本東京有明展示場 (Tokyo Big Sight)
日期:115年1月28日(三) ~ 115年1月30日(五)
攤位:臺灣主題館 -S30